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FD-MOC-A型 磁光效應綜合實驗儀（法拉第效應和磁光調製）



　　1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的聯係時，發現了一種現象，當一束平麵偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加一個磁場，就會觀察到光經過樣品後偏振麵轉過一個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象後來稱為法拉第效應。

　　法拉第效應有許多應用，它可以作為物質研究的手段，可以用來測量載流子的有效質量和提供能帶結構的知識，還可以用來測量電路中的電流和磁場，特別是在激光技術中，利用法拉第效應的特性可以製成光隔離器、光環形器和調製器等。

　　由上海天威教學儀器設備有限公司研製生產的 FD-MOC-A型磁光效應綜合實驗儀，是一台綜合研究磁光效應的實驗儀器，通過該實驗儀可以學習法拉第效應的原理，並通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過磁光調製的方法確定消光位置，從而提高測量精度，這種由淺入深的測量方法使學生理解測量的科學方法。並通過調製的方法可以精確測量不同磁光樣品的光學特性和特征參量，另外該儀器可以顯示磁光調製波形，觀測磁光調製現象，研究調製幅度和調製深度的原理。本儀器有下列特性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質進行實驗；2）具有大幅度的交流調製信號和直流勵磁，且穩流勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，精確直觀；4）調製光接收靈敏度高，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶遊標測角機構，分辨率高。

　　儀器主要技術參數：

　　1．磁光介質 法拉第旋光玻璃

　　2．激光光源 半導體激光器（波長650nm）輸出功率 <2.5mW

　　3．直流勵磁電流 0—5A(連續可調，數字顯示)

　　4．調製信號 頻率500Hz(正弦波)

　　5．起偏器角度分辨率 1度

　　6．檢偏分辨率 約3分