TWP-W162型 雙棱鏡光幹涉實驗儀

1826年法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相幹光的波前分成兩部分，形成分波麵幹涉，利用測量幹涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光幹涉實驗的物理思想、實驗方法與測量技巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光幹涉實驗儀具有以下優點：

1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相幹性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰幹涉條紋，也為鈉光幹涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長進行比較。

2.導軌和轉盤采用高強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生鏽、經久耐用、手感好。

3．帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。

本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。

應用本儀器可以完成以下實驗：

1．觀察雙棱鏡的幹涉現象。

2．測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。

3．觀察其他光源的雙棱鏡光幹涉現象。

儀器主要技術參數：

1．導軌 長80.0cm，分度值1mm；滑塊5隻，其中1個滑塊上帶轉動裝置。

2．帶轉盤的狹縫 縫寬約0.04mm。

3．測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。

4．光源 半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V。

5．鈉光燈及電源（選配）。