TWP-W189 材料磁性綜合測量儀

表麵磁光克爾效應研究超薄膜磁性質，研究磁光存儲的特性，開發新型的高密度磁光存儲介質。可用於納米技術、巨磁阻、磁電子器件等新磁性材料的研究。將具有超大磁致伸縮效應的鐵磁材料晶體研製成新的合金材料，具有很高的居裏溫度特點 , 引發傳統電子信息係統、傳感係統、振動係統等領域產生變革。故對材料磁致伸縮性的研究也是國內外材料研究領域的又一個重點。振動樣品磁強計應用於測量鐵磁、反鐵磁、抗磁等材料的磁特性，包括對稀土永磁材料、鐵氧體材料、超導材料及生物蛋白質的磁性研究。古埃法磁天平用於磁學和磁化學研究，可測量順磁和逆磁磁化率，磁流體的磁矩和磁化特性。

以表麵磁光克爾效應實驗係統為基礎，將表麵磁光克爾效應、磁致伸縮效應、振動樣品磁強計和磁天平四種測試手段融合在一個測量係統當中，共用同一台電磁鐵，整合了信號處理係統。並且在磁致伸縮效應的測量上使用了獨特的方式使得操作更為方便，靈敏度更高。

儀器主要技術參數：

•  實驗平台 光學減振組合式實驗台，台麵尺寸 1600 × 1200mm ， M6 螺孔，孔距 25 × 25mm

•  電磁鐵 磁極間隙 0-50mm 連續可調

•  精密恒流電源 0-7.5A 連續可調

•  半導體激光器 波長 650nm ，輸出功率 2mW

•  位移傳感器測量精度 0.1um

•  磁化強度測量精度 10 -6 Am 2