TWP-W188型 表麵磁光克爾效應實驗係統

TWP-W188型表麵磁光克爾效應實驗係統是在原實驗係統的基礎上改進提高而成，儀器的整體性能和實驗穩定度均得到了明顯的改善。

首先，實驗平台改掉了光學鐵板的形式，采用硬鋁黑色陽極氧化的方式，這樣大大提高了光學平台的可移動性和光學性能，台麵采用 M6固定螺孔的方式來連接各個光學元件，這樣整個光學調節完成後可以減少不必要的移動和改變，對後麵實驗操作帶來了方便。

其次，儀器測試靈敏度提高了一倍，這樣最終的測試信號整體穩定性得到了大大改善，這樣可以進一步研究單原子層厚度的磁性薄膜的性質，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方麵的研究中發揮更重要的作用。

再有，環形電磁鐵進一步改進，在不改變中心最大磁感應強度的情況下，縮小磁鐵結構，這樣更加有利於與超高真空係統連接，對磁性薄膜和超薄膜進行原位測量。

儀器主要技術參數：

1.實驗平台 光學減振組合式實驗台，台麵尺寸 1200×900mm，M6螺孔，孔距25×25mm，

2.高穩定度半導體激光器，波長 650nm，輸出功率 2mW左右，最小光斑直徑1mm。

3.偏振棱鏡 通光孔徑 8mm，消光比 10 -5 ，主透比90％。

4.環形電磁鐵 中心最大磁感應強度約 2800Gs，磁間隙30mm

5.精密恒流電源 最大電壓38V，最大輸出電流 10A。